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中心名稱(Center Name) Ascending
儀器資訊 Ascending
1 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000008800】多功能原子力顯微鏡
Instrument Name Atom force microscopy
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
2 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000008804】變溫探針顯微鏡
Instrument Name Atom force microscopy
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
預約剩餘次數
(一個月內)
校內預約剩餘次數:30
校外預約剩餘次數:9
3 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000008806】高解析度探針顯微鏡
Instrument Name Atom force microscopy
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
4 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000011300】場發射穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai F20 G2)
Instrument Name Tecnai F20 G2 Field Emission Gun Transmission Electron Microscope
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
預約剩餘次數
(一個月內)
校內預約剩餘次數:39
校外預約剩餘次數:15
5 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000011301】場發射穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai F20 G2)FEG-TEM委託服務
Instrument Name Tecnai F20 G2 Field Emission Gun Transmission Electron Microscope(Entrusted operation)
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
預約剩餘次數
(一個月內)
校內預約剩餘次數:40
校外預約剩餘次數:37
6 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000011302】場發射穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai F20 G2)FEG-TEM自行操作(限中山材料)
Instrument Name Tecnai F20 G2 Field Emission Gun Transmission Electron Microscope(NSYSU-MOES Only)
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
預約剩餘次數
(一個月內)
校內預約剩餘次數:39
校外預約剩餘次數:40
7 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM0000017100】環境掃描式電子顯微鏡
Instrument Name Environmental Scanning Electron Microscope
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
8 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM001400】PHILIPS CM-200TEM穿透式電子顯微鏡
Instrument Name PHILIPS CM-200 Transmission Electron Microscope
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
預約剩餘次數
(一個月內)
校內預約剩餘次數:25
校外預約剩餘次數:26
9 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM001509】6330場放射型掃瞄式電子顯微鏡
Instrument Name JEOL 6330 TF Field Emission Electron Microscope
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
10 國立中山大學貴重共同儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
儀器名稱 【EM001600】JEOL 3010 TEM穿透式電子顯微鏡
Instrument Name JEOL 3010 Analytical Scanning Transmission Electron Microscope
儀器類別 電子顯微鏡
儀器狀態 服務
預約剩餘次數
(一個月內)
校內預約剩餘次數:32
校外預約剩餘次數:29
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